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(點(diǎn)擊查看產(chǎn)品報(bào)價(jià))
使用掃描電鏡法會(huì)遇到幾種干擾,在正常的工作電壓
下,電子束的穿透能力大約為1-6 μm ,這種穿透能力可
使附近的子礦物或周圍的主晶產(chǎn)生X 射線干擾。這樣的干
擾通�?梢酝ㄟ^重新定位電子束或減小加速電壓加以排除,
至少可以減到最小,由稀放出來的包裹體流體沉淀產(chǎn)生的
蒸發(fā)物薄膜也可能產(chǎn)生微小的干擾,對于大部分來說,包
裹體在破裂的瞬間要吹凈這些流體,不過,在所打開的空
腔里或其周圍,這些流體偶然也會(huì)產(chǎn)生一些鹽的殘余物,
這些蒸發(fā)物薄膜是厚薄不勻,結(jié)晶細(xì)小的多礦物包層,很
容易與子礦物分開,這些蒸發(fā)物常常包裹著子晶,產(chǎn)生弱
的異常的X 射線峰,這些峰根據(jù)幅度小,而且在不同的鹽
上反復(fù)出現(xiàn),或通過與標(biāo)準(zhǔn)和已知子礦物對比,一般都可
以識別出來�?疾檫@些薄膜的性質(zhì)也是有益的,這些薄膜
存在于已知成分的包裹體主礦物上,這些蒸發(fā)鹽薄膜可以
用來研究最初在室溫下溶解于包裹體鹵水中的鹽類,但這
個(gè)可能性地本工作中末作探討。
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