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用于光學研究和解理碎片法
與礦物顆粒法相比,解理碎片法具有一定的潛在優(yōu)勢,用
理碎片法可研究較大的樣品,因而能對樣品中不同包裹體組
合和結晶方位之間的關系進行研究,然而即使礦物的解理異
常發(fā)育(方解石),在高倍顯微鏡下觀時,也往往表現(xiàn)出不
平整表面的特點,從而掩蓋了下伏的包裹體,需要用浸油來
消除這些影響,因此,解理碎片法的價值是有限的。
測溫分析所需拋光片的制備
兩面拋光的礦物薄片是成功在進行包裹體測溫研究的關鍵
,標準的礦石拋光工藝可以很容易地改成流體包裹體拋光薄
片的制作工藝,片子高質量兩面拋光比平行和平整表面更重
要,不過我們總是應該力爭把這兩方面都搞好,拋光片的最
終厚度取決于包裹體的大小和豐度以及礦物的透明度,
大多數(shù)樣品厚度要求介于0.2和0.5mm之間,但是如果樣品不
透明或半透明,則需要制備很薄的(約0.1mm)拋光片,厚
度大于2mm是不允許的,因為這會影響設計的冷-熱兩用臺的
操作。
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