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本文標(biāo)題："各類微觀金相實(shí)驗(yàn)計(jì)量便攜金相顯微鏡-零件輪廓測量"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-5-1 14:13:17 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
關(guān)于實(shí)驗(yàn)中所觀測到超亞結(jié)構(gòu)單元的物理解釋，
由于樣品表面經(jīng)過浸蝕，因而可認(rèn)為，這種微起伏
實(shí)際上反映了在瞇亞單元內(nèi)存在的各類微觀缺陷
，超亞單元的凹處可能是微觀界面，或其它規(guī)則排
列的線或面缺陷，如位錯(cuò)、層錯(cuò)、孿晶等，對(duì)此還
需做更深入的研究。
除貝氏體鐵素體外，用SEM首次觀察到有色合金
貝氏體組織中存在亞單元結(jié)構(gòu)，為測得亞單元的起
伏大小。
眾所周知，采用適當(dāng)?shù)慕g劑，可顯示珠光體的
層片狀特征，其原理在于浸蝕劑一般優(yōu)于腐蝕兩相
界面（此處能量較向），但采用一般的金相分析方
法，很難傳統(tǒng)的分析方法研究本文實(shí)驗(yàn)用合金時(shí)，
也面臨同樣界面，由于貝氏體鐵素體內(nèi)部存在大量
缺陷，如亞片條間界面、亞單元間界面及超亞單元
間界面等，因而導(dǎo)致鐵素體容易腐蝕，若此時(shí)儀器
的分辨率較低，則很容易得出如下錯(cuò)誤的結(jié)論，即
鐵素體的耐蝕性能劣于奧氏體、然而，分析
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