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利用分析和電阻率測量金屬中的雜質(zhì)元素
利用分析和電阻率測量確定純度
直接確定純度的必要性
在很多場合,僅僅當(dāng)有了確定最后提純純度的某種方法
以后才去做一個提純實驗.實踐中預(yù)先計算由給定區(qū)熔過程
所想得到的純度是困難的,真實的分布系數(shù)不知道,雜質(zhì)材
料的污染總是存在的,因此精確地預(yù)言所得到的純度事實上
是不可能的。測量最后純度的方法也適合于尋找最佳區(qū)熔技
術(shù):殘留雜質(zhì)的知識對進一步增加被提純材料的純度是重
妾的.
為了測定金屬中的雜質(zhì)元素,將樣品放在基本粒子流中
輻照,然后側(cè)量所形成的放射元素的放射性。將這個放射性
與同時輻照的標(biāo)準(zhǔn)相比較,就得到雜質(zhì)的濃度。放射性測盤
可以在樣品上直接傲,或在放射元素經(jīng)過化學(xué)分離后做。輻
照時形成的放射性同位素量是很小的,常用“載體”技術(shù):將
含有被輻照樣品的溶液中加入少童天然的,無放射性的元素,·
使在化學(xué)分離中可以相繼處理微量放射性同位素,它們的化
學(xué)性質(zhì)和載體的化學(xué)性質(zhì)是相同的.放射性分析是很靈敏的.
而且是很特殊的,形成的放射性同位素不僅可用化學(xué)性質(zhì)而
且可用放射性性質(zhì)來標(biāo)識(半壽命,輻射的類型和能譜).最
后,不用擔(dān)心污染,因為考慮的僅是輻照形成的放射元素,
在隨后處理中混進的雜質(zhì)是無放射性的,因而不影響結(jié)果。
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