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本文標題："用電阻率測量確定純度使用顯微鏡觀察微觀結構"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2015-5-3 20:39:28 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
微觀結構可以被分為隨機取向的或部分取向的幾類，取
向度可由所測得的定量參數計算出來。如果存在兩個或三個
取向軸的話，可重復最初所用的單一取向軸描述的步驟
高純金屬的質語和其它分析方法
采用的質譜術和放射性分析一樣能靈敏、準確、經
濟地分析純金屬。可以用一個鎢或擔燈絲，被研究的溶液蒸
著在燈絲上，此鎢或擔燈絲就作為離子源。利用同位素稀釋
法就是這樣測定了鋁中的微量鋰.這樣的方法需要很多的試
驗，并有來自試劑的污染危險.
一個更常用的技術是利用真空火花使大塊樣品蒸發(fā)和電
離.它大大減小了污染的危險并能快速和靈敏地測定未知樣
品中的許多雜質。即使還有某些標準化的問題，這個方法用
得愈來愈多了.將結果與放射性分析的那些結果相比較符合
得很好.但在低濃度范圍觀察到某些偏差
用電阻率測量確定純度
樣品的完全分析書要很長的操作，并且不能保證測定了
所有存在的雜質.電阻率測量是一個有意義的分析方法，它
能快速給出所含雜質的總量.
作為一級近似，可以假定純金屬的電阻率是兩項之和.
第一項(理想電應率)僅依賴于溫度，是由導電電子被點陣
熱激發(fā)波散射引起的。第二項(殘留電阻率)與溫度無關，
是由點陣缺陷引起的.在低溫下第二項將占優(yōu)勢，電阻率對
化學類型缺陷(雜質)或物理類型缺陷(點陣缺陷)將很敏
感。例如對于一個含有少數點陣缺陷的樣品，低溫電阻率將
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