---
---
---(點擊查看產(chǎn)品報價)
本文標題："鍍層所有的物理特點與其微觀結(jié)構(gòu)分析便攜顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2015-6-8 22:25:26 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
此外，還需要確切地掌握鍍液中雜質(zhì)的類型和含量。市售高純化學(xué)試劑通常
標出了金屬不純物的類型和含量，但不涉及有機不純物。有機雜質(zhì)濃度在電鍍中
是個重要因素，對鍍層結(jié)構(gòu)也有顯
著性影響，而有機不純物的分析并非一件易事。另外，上述列舉的因素主要針對
純金屬電鍍，這意味著合金電鍍時需要涉及其他因素。綜合起來，影響因素很
多，很難構(gòu)筑一個可將微觀結(jié)構(gòu)與鍍層性能聯(lián)系起來的理論框架，因此事實上，
電沉積研究至今仍囿于傳統(tǒng)嘗試法上踏步不前。
嘗試法作用有限得很。不少研究者過分倚重電化學(xué)技術(shù)，例如測定沉積過電
位，分析電解液中的金屬離子、絡(luò)離子狀態(tài)�；陔娀瘜W(xué)／化學(xué)信息，于是提出
了解釋電沉積中某一現(xiàn)象的理論框架。不幸的是，如此產(chǎn)生的理論通常是自相矛
盾的，難以協(xié)調(diào)。
鍍層所有的物理特性與其微觀結(jié)構(gòu)直接相關(guān)。過去，在鍍層
微觀結(jié)構(gòu)的研究上存在不足，往往只靠X射線衍射法去做鑒別。X射線衍射分
析法的前提是鍍層需要具有均勻的微觀結(jié)構(gòu)，這個前提與鍍層非均勻的(尤其是
沿鍍層厚度方向)事實直接相悖，所以單憑X射線衍射法并不能給出鍍層微觀
結(jié)構(gòu)的準確描述。采用X射線分析技術(shù)的另一難處是缺乏非晶相或熱力學(xué)介穩(wěn)
相的微觀結(jié)構(gòu)資料。如果x射線衍射數(shù)據(jù)未曾出現(xiàn)在粉末衍射標準聯(lián)合委員會
卡片上或科技文獻中，一般就很難借之做詳細的結(jié)構(gòu)分析。
鍍層的相成分與夾雜含量能給出解釋微觀結(jié)構(gòu)的重要信息。過去對鍍層進行
的化學(xué)成分分析一般針對金屬元素和選定的非金屬元素如磷或硼，很少涉及一些
所有資料用于交流學(xué)習(xí)之用，如有版權(quán)問題請聯(lián)系，禁止復(fù)制,轉(zhuǎn)載注明地址
上海光學(xué)儀器一廠-專業(yè)顯微鏡制造商 提供最合理的顯微鏡價格
合作站點：http://www.sgaaa.com/顯微鏡百科