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本文標(biāo)題："待測(cè)物體對(duì)外界光線的反射和高溫計(jì)-光學(xué)測(cè)溫儀器"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-6-10 1:58:26 本站主頁(yè)地址：http://www.y7853.cn
待測(cè)物體對(duì)外界光線的反射和高溫計(jì)-光學(xué)測(cè)溫儀器
高溫計(jì)
高溫計(jì)用于要求封閉著校驗(yàn)或控制陰極溫度、熱絲溫度及
管子零件的退火或除氣溫度的情況中。特別是精測(cè)高溫計(jì)，被
用來(lái)決定小型的熱絲和陰極的溫度。在決定的時(shí)候使高溫計(jì)中
一個(gè)已經(jīng)校正的熾熱線的亮度與被光學(xué)放大的物體之像的亮度
相等(放大量為】0：1)。因此只有被量測(cè)物體具有可見(jiàn)輻射
時(shí)(>600℃)才可用高溫計(jì)來(lái)決定溫度。
電子管泡殼對(duì)光線的吸收(特別由于金屬淀積物對(duì)光線的
吸收)，待測(cè)物體對(duì)外界光線的反射和高溫計(jì)內(nèi)部白熾燈泡的
陳化，是測(cè)高溫學(xué)中最經(jīng)常的誤差來(lái)源。
二種常用于電子管技術(shù)中的光測(cè)高溫計(jì)具有望遠(yuǎn)鏡式的外
觀。它們都是“熱絲消失”型的高溫計(jì)，而且具有一比較光源
和一個(gè)位于物鏡像平面上的燈絲。在高溫計(jì)
熱絲和輻射物體之像的光度匹配是用改變通過(guò)熱絲電流的方法
進(jìn)行的
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