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本文標題："粒度測量在測量顆粒尺寸-電子顯微鏡的放大倍數(shù)"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2015-7-20 1:47:35 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
粒度測量在測量顆粒尺寸-電子顯微鏡的放大倍數(shù)
切片，把上述包埋好的試樣，用超薄切片機將其切成
300～1000埃左右的薄片，然后撈在銅網(wǎng)上，在電子顯微鏡下直
接觀察。
超薄切片的制樣方法用來制取生物組織和其他一些非金屬軟
組織的電子顯微鏡試樣已屢見不鮮，但用它制取顆粒試樣，這還
是最近的事。它不僅具有制樣簡便的優(yōu)點，更重要的是因為包埋
劑本身的滲透能力強，從而使顆粒在不加任何外力的情況下自行
得到較好的分散，這樣便有利于排除由于分散操作不當所引起的
實驗誤差。
粒度測量在測量顆粒尺寸時，為了減少儀器帶來的誤
差，應當在觀察樣品的同時，用特制的光柵膜對電子顯微鏡的放
大倍數(shù)進行認真校對。光柵是由精密機床在玻璃表面上每一毫米
距離內(nèi)刻上1000條相互平行而且等距的刻痕而成。光柵膜是用二
次炭復型的方法做成
原則上，電子顯微鏡也可以用來分析粒度組成。但是，由于
視場太小，操作太麻煩，因此實用上很少被采用。只有近年來，
在掃描電子顯微鏡中配上相積分器的圖像分析，應用顯微鏡法對
細顆粒的粒度分布測量工作才廣泛地開展起來。有關圖像分析，
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