---
---
---(點(diǎn)擊查看產(chǎn)品報(bào)價(jià))
本文標(biāo)題："顯微鏡測(cè)定顆粒組成特征-顆粒輪廓測(cè)量"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-8-23 19:09:13 本站主頁(yè)地址：http://www.y7853.cn
顯微鏡測(cè)定顆粒組成特征-顆粒輪廓測(cè)量
顆粒組成的測(cè)定也會(huì)遇到類似上述的單值問(wèn)題。顯微鏡測(cè)定
顆粒切片暴露出來(lái)的不同相的表面積，一般不會(huì)得到同于X一射線
衍射分析結(jié)果的礦物組成。
盡管有這些問(wèn)題存在，但其實(shí)對(duì)所處理的顆粒的特性知道得
越多，則對(duì)顆粒的行為理解得越全面，最終對(duì)體系的分析和過(guò)程
的設(shè)計(jì)也就越完善。針對(duì)一定的用途，應(yīng)決定必須測(cè)定顆粒的哪
些特性，并選擇每種特性的測(cè)定方法。實(shí)際上，這些測(cè)定方法將
確定粒度、形狀等在所研究的體系中的意義如何。測(cè)定的顆粒特
性本身，能與體系的動(dòng)力學(xué)反應(yīng)聯(lián)系起來(lái)。這種方法能導(dǎo)出一套
不自相矛盾的顆粒特性參數(shù)，可用于描述體系的行為。
性質(zhì)分布的表示方法
所有資料用于交流學(xué)習(xí)之用，如有版權(quán)問(wèn)題請(qǐng)聯(lián)系，禁止復(fù)制,轉(zhuǎn)載注明地址
上海光學(xué)儀器一廠-專業(yè)顯微鏡制造商 提供最合理的顯微鏡價(jià)格
合作站點(diǎn)：http://www.sgaaa.com/顯微鏡百科