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本文標(biāo)題："用于同時(shí)測量基體表面多層覆鍍的鍍層厚度便攜金相顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-9-6 17:12:35 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
用于同時(shí)測量基體表面多層覆鍍的鍍層厚度便攜金相顯微鏡
渦流法測厚
渦流法測厚也屬非破壞性測厚法，可測量磁性基體上的非磁
性鍍層、鋁，鋁合金表面的氧化膜或其它非金屬保護(hù)膜。其測量誤
差與磁性法相似。
方法原理
經(jīng)調(diào)零和校準(zhǔn)符合要求后，立即將探頭垂直予試樣的規(guī)定部
位，這時(shí)在表頭上指示的數(shù)值，即表示試樣該部位的鍍層厚度值。
然后在附近部位反復(fù)測量幾次，其數(shù)值接近時(shí)，取其各點(diǎn)平均值作
為鍍層的厚度平均值。
渦流法測厚，也可用于非磁性基體上的與鍍層間電導(dǎo)率相差
較大的鍍層和其它非導(dǎo)電涂復(fù)層。
X射線熒光法測厚是一種快速、高精度的非破壞性測厚方
法。此法可測量任何金屬或非金屬基體上的15μm以下各種金屬
鍍層的厚度，它可以對面積極小的試樣和極薄(百分之幾μm)的
鍍層、形狀極復(fù)雜的試樣進(jìn)行測厚。
X射線熒光法也可用于同時(shí)測量基體表面多層覆鍍的鍍層厚
度，還可以在測量二元合金(如Pb-Sn合金等鍍層)厚度的同時(shí)，
鍘出合金鍍層的成分。所以是一種比較先進(jìn)而應(yīng)用范圍廣泛的測
量方法。
x射線熒光法測厚的工作原理是利用x射線管或放射性同他
素釋放出X射線，激發(fā)鍍層或基體金屬材料的特征X射線，X射
線的頻率是金屬原子序數(shù)的函數(shù)，而其強(qiáng)度與厚度有關(guān)。所以，通
過測定X射線的衰減后的強(qiáng)度，即可測量出被測鍍層的厚度。
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