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(點(diǎn)擊查看產(chǎn)品報(bào)價(jià))
檢驗(yàn)復(fù)雜零件的尺寸,形狀及加工質(zhì)量測量
顯微鏡
多次曝光法就是在超越被研究對(duì)象振蕩周期的時(shí)間內(nèi)連
續(xù)記錄全息圖.必須將合成的全息圖看作是大量瞬時(shí)全息圖
的重疊.
全息干涉法有兩個(gè)肯定的優(yōu)點(diǎn)須予指出:首先,被研究
對(duì)象的形狀可以是不正確的,甚至是漫反射形的.通過被研
究對(duì)象的波或其反射波的復(fù)雜形狀對(duì)干涉圖樣的質(zhì)量并無影
響,因?yàn)榛鶞?zhǔn)波與工作波被此對(duì)象造成畸變實(shí)際上是同樣
的,而干涉圖樣的形式則完全決定于隨物體發(fā)生的那些變
化.
其次,對(duì)全息干涉儀光學(xué)系統(tǒng)的質(zhì)量要求不如一般那樣
的高,因?yàn)樵谠摳缮鎯x中,兩個(gè)波因光學(xué)零件不完善而產(chǎn)生
的變形是相同的.這一情況對(duì)任何干涉儀都是重要的,而在
研究大型物體時(shí)則尤其重要.
全息干涉儀的幾個(gè)主要應(yīng)用方面是:
(1)研究不正確形狀的、漫射光的物體的變形,
(2)研究物體的振動(dòng),
(3)檢驗(yàn)復(fù)雜零件的尺寸,形狀及加工質(zhì)量
(4)檢驗(yàn)大型光學(xué)零件,
(5)研究透明物體中的應(yīng)力分布,
(6)研究脈沖與固定相位不均勻性,氣流、爆炸、沖
擊波、等離子體及其它等等.
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