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本文標(biāo)題："利用干涉顯微鏡可以研究光學(xué)系統(tǒng)與光學(xué)零件的質(zhì)量"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-9-17 17:26:40 本站主頁(yè)地址：http://www.y7853.cn
利用干涉顯微鏡可以研究光學(xué)系統(tǒng)與光學(xué)零件的質(zhì)量
干涉圖樣與被研究的不均勻性問的單值關(guān)系的確定是以
某些假設(shè)為基礎(chǔ)的，首先是認(rèn)為干涉儀的光學(xué)系統(tǒng)是理想
的，完全符合幾何光學(xué)的規(guī)律．其次是認(rèn)為不均勻物體中的
光折射微乎其微．
當(dāng)氣流速度接近甚至超過聲速時(shí)，氣流的干涉研究法是
有效的．在這些條件中，可壓縮性漸變?yōu)槊黠@并出現(xiàn)氣體密
度及其折射率的局部變化．
另一方法是用空氣動(dòng)力學(xué)關(guān)系測(cè)定局部密度時(shí)的靜壓．
這時(shí)，或利用“偏移”干涉條紋，或利用“輪廓"干涉條紋
(適合于=度條件)獲得密度分布．這種輪廓千涉條紋是在
將干涉儀作干涉條紋無限寬調(diào)整時(shí)獲得的固定密度線．
只要將無氣流的干涉條紋系統(tǒng)疊加到具有氣流的相應(yīng)干
涉條紋系統(tǒng)中，在偏移干涉條紋中亦同樣可獲固定密度線．
干涉條紋相移達(dá)180°的一段呈灰色斷續(xù)干涉條紋形狀(波紋
型)，是固定偏移線，因而也是固定密度線．條件有利時(shí)，
這些線的位置測(cè)定誤差可不超過1／20
衍射光柵式干涉儀還不只限于在氣體動(dòng)力研究中廣泛使
用．利用這類千涉儀可以研究光學(xué)系統(tǒng)與光學(xué)零件的質(zhì)量、
進(jìn)行全息記錄和復(fù)現(xiàn)波前、測(cè)定長(zhǎng)度量與角度量、研究生物
對(duì)象．這類干涉儀的主要優(yōu)點(diǎn)是可以在寬廣的光譜范圍(包
括超高頻范圍)內(nèi)工作，只不過由于缺乏優(yōu)質(zhì)透明光柵，現(xiàn)
暫未充分利用．
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