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本文標題："測量樣品時使用測角器,晶粒計量金相顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2015-9-29 17:19:01 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
測量樣品時使用測角器,晶粒計量金相顯微鏡
原因：首先。在很多情況下測量極圖時不使用測角器的擺動功能，
這樣如果不考慮口角變化的影響，x射線束在整個測量極圖的過
程中基本上照射同一部分晶粒．因此不會出現(xiàn)邏輯偏差；另外，當
晶粒極為細小時樣品任何部位晶粒取向的分布狀態(tài)都可能很接近
整體晶粒取向分布狀態(tài)。
因而在整體上對極圖質量的影響不大；再有，當待測樣
品內的織構非常強時大多數(shù)晶粒取向會分布在某些取向位置附
近．在樣品各個部位都會測到同種織構的存在，所以測量其它取
向晶粒時出現(xiàn)的邏輯偏差對整個極圖的影響并不顯得十分重要，
因而往往被人們所忽略。雖然有如上種種原因，但并不能否認邏
輯偏差的存在，只是邏輯偏差被掩蓋了。這就造成了該問題的隱
蔽性。
一般認為，對于粗晶樣品為了保證所測極圖良好的統(tǒng)計性須
在測量樣品時使用測角器的擺動功能。若樣品內晶粒比較粗大而
且織構不很強．樣品各部位的晶粒取向分布與整體分布的偏差就
會加大。同樣尺寸的x射線束所能照射的晶粒數(shù)變少．因而同樣
的衍射線不會在x射線束照射到的任何部位都出現(xiàn)，這時上述邏
輯偏差就不容易被掩蓋住了。邏輯偏差的出現(xiàn)造成了極圖質量的
下降。當人們由于樣品晶粒粗而希望借助測角器的擺動功能增加
極圖的統(tǒng)計性時明顯出現(xiàn)了邏輯偏差，這就是問題的危害性。
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