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本文標(biāo)題："晶粒尺寸對(duì)高純金屬的斷面收縮率不起作用-測(cè)量顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-10-31 23:31:07 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
晶粒尺寸對(duì)高純金屬的斷面收縮率不起作用-測(cè)量顯微鏡
斷面收縮
前面已指出，拉伸試驗(yàn)時(shí)應(yīng)變硬化的細(xì)晶粒合金試樣由于縮
頸而表現(xiàn)出小的均勻延伸。在所有的溫度、特別是低溫情況下，
這類材料的試樣都形成了縮頸。由于縮頸區(qū)的面積很小，所以斷
面收縮率相當(dāng)大。需要闡明的問題是，晶粒尺寸是否對(duì)相對(duì)斷面
收縮率有影響，以及有同一化學(xué)成分、但晶粒尺寸分別是超細(xì)晶
粒和粗晶粒的試樣相對(duì)斷面收縮率是否不同。
由于晶粒尺寸對(duì)高純金屬的斷面收縮率不起作用，可以推論，當(dāng)?shù)?/div>
二相顆粒的體積百分?jǐn)?shù)增加時(shí)，晶粒尺寸的效應(yīng)就增加。但是，
當(dāng)體積百分?jǐn)?shù)高到使晶粒尺寸對(duì)機(jī)械性能已不再有任何影響時(shí)，
則此種效應(yīng)減到最低限度。所以，可能存在一個(gè)對(duì)應(yīng)于晶粒尺寸
最大效應(yīng)的第二相顆粒最佳體積百分?jǐn)?shù)。假定晶粒尺寸是唯一的
結(jié)構(gòu)變量，很可能在制備各種晶粒尺寸材料的過程中第二相顆粒
進(jìn)行了重新分配。
由試樣變薄后的薄膜透射電鏡圖測(cè)定。晶胞主要為小角度晶界所
分隔。有意義的是，晶胞尺寸在任一給定應(yīng)變量下的變化與原始
晶粒尺寸不同有關(guān)，也就是最小的晶胞尺寸常常出現(xiàn)在具有最小
原始晶粒的材料中。所以，有理由認(rèn)為，晶粒尺寸通過其對(duì)位錯(cuò)
亞結(jié)構(gòu)的影響而影響斷面收縮率。如果晶胞壁成為試樣斷裂前裂
紋生長的障礙，則晶胞尺寸越小，裂紋就越難擴(kuò)展，斷面收縮率
值就越大。
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