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(點(diǎn)擊查看產(chǎn)品報(bào)價(jià))
測(cè)量基本上是在測(cè)試面(包括有一定厚度的面)上進(jìn)行的
基本測(cè)量方法
描述一個(gè)組織的參數(shù)有很多種,但是,從以后的討論中將會(huì)
知道,各種參數(shù)都可以用在測(cè)試集中的各種密度來(lái)表達(dá)。
整個(gè)測(cè)量就是計(jì)算在測(cè)試集中的某種點(diǎn)數(shù)、
個(gè)數(shù),量度某種線長(zhǎng)度或某種面積的大小。這樣,測(cè)量方法可以歸
結(jié)為計(jì)點(diǎn)法、線分析法及面積法等三類。另外,即使采用測(cè)試線
或測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量,測(cè)試過(guò)程一般也是在截面上實(shí)現(xiàn)的。也即是
說(shuō),測(cè)量基本上是在測(cè)試面(包括有一定厚度的面)上進(jìn)行的。
這樣看來(lái),截取有足夠代表性的截面是正確測(cè)量的前題。如果所
用的截面不具有代表性,則所有測(cè)量都是沒(méi)有意義的。
一個(gè)二維截面和三維凸型物體相截只能截出一個(gè)跡面;一個(gè)
一維截線和三維凸型物體相截只能截出一條跡線。但是,對(duì)于非
凸型物體或是多連通體,二維截面和它相截可能得出不只一個(gè)跡
面;一維截線和它相截可能得出不只一根跡線,我們無(wú)法只從一
個(gè)二維截面的相截的跡痕來(lái)判定物體空間連接情況。如果一定要
知道物體在空間連接的情況,則要求有一系列順序截過(guò)整個(gè)系統(tǒng)
的截面來(lái)提供信息。
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