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本文標(biāo)題："礦物自形程度簡稱為自形度,礦物形態(tài)研究顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-11-12 14:23:44 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
礦物自形程度簡稱為自形度,礦物形態(tài)研究顯微鏡
對礦物形態(tài)研究，主要解決以下問題：
(1)查明礦物的單體形態(tài)把同種礦物不向方向的切面形態(tài)在空間上組合起來，就成為
礦物的單體形態(tài)。對于已知單體形態(tài)的礦物，觀察少數(shù)幾個(gè)切面即可；對于未知礦物，要觀
察多個(gè)方向的切面形態(tài)，在立體上構(gòu)想出單體形態(tài)，并在實(shí)體鏡下驗(yàn)證。
(2)判斷切面方位：對單體形態(tài)已知的礦物，其不同方向的切面形態(tài)自然可知。如果薄
片中切面形態(tài)與某已知方向切面形態(tài)相同，其光性也與該切面的相符，則可知薄片切面方向
與某已知切面方向一致。切面形態(tài)是尋找定向切面的依據(jù)之一。
確定礦物的自形程度：礦物的自形程度簡稱為自形度。顆粒細(xì)小礦物的自形度在手標(biāo)
本中一般難以查明，而在薄片中通過對切面形態(tài)的觀察，則較為容易查明。
(3)礦物的自形度分為三級
解理及解理夾角的測定
顯微鏡下難見到解理面，常見到解理面與薄片平面的交線即解理紋，解理紋是平直的黑
線。在顯微鏡下對解理紋的觀察可以查明礦物解理的性質(zhì)。
解理紋的能見度主要取決于以下幾個(gè)因素。
礦物的解理性質(zhì)：只有有解理的礦物才能見到解理紋，只有有多組解理的礦物才可
觀到多組解理紋，只有具極完全解理的礦物才可能見到平直、連續(xù)、密度大的解理紋
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