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用測(cè)量在解理鱗片上消光角的方法區(qū)別幾種長(zhǎng)石
雙晶
在一個(gè)晶體的薄片中,雙晶的存在,一般在正交偏光鏡下檢查薄
片時(shí)立刻就顯現(xiàn)出來(lái),由于雙晶的二個(gè)單體現(xiàn)出不同的干涉色,并
在不同的位置上消光。
在最普通的情況下,即雙晶面和聯(lián)接面相符合時(shí),薄片垂直于雙
晶面時(shí),將呈現(xiàn)雙晶的兩個(gè)單體消光角,它們自連接線算起呈相等
但相反的方向,反過(guò)來(lái)說(shuō),一個(gè)晶體呈現(xiàn)上等而相反的消光角時(shí),
可以假定它是幾乎垂直地切在雙晶面上。
假如切片的平面切在晶體的雙晶面上成很小的角度時(shí),雙晶的二
個(gè)單體在相當(dāng)?shù)膶挾?上相重迭,我們將看到在二者中間的一個(gè)狹
窄條帶,它不表現(xiàn)與二者任何相同的光學(xué)性質(zhì)。
當(dāng)有重復(fù)的雙晶時(shí),像在長(zhǎng)石中有鈉長(zhǎng)石紋理時(shí),按照光學(xué)性質(zhì)
分開(kāi)成二組交替狀的排列。
長(zhǎng)石中的消光角
用測(cè)量在解理鱗片上消光角的方法區(qū)別幾種長(zhǎng)石,是一種較給的
方法,但不能應(yīng)用在巖石薄片的晶體里,為了這個(gè)緣故,米舍爾勒
威和其他人所提倡的方法,就常常不很有用的,有二種情況,它是
完全可以應(yīng)用的。
用在結(jié)晶具有鈉長(zhǎng)石紋理者——選擇切片,切在幾乎垂直于紋理
的方向,這可借存于二組相交替的紋理中的消光角從雙晶線算起都
是方向相反和大小幾乎相等而得知,在三個(gè)或四個(gè)所選出的晶體中
測(cè)量末知的角度,并取得所發(fā)現(xiàn)的最大值,這就是所有這類切片的
近似最大的角度,它對(duì)每種長(zhǎng)石是一個(gè)固定常數(shù),如在附圓中所指
出的某些類型,末在圓解中的類型的數(shù)值,用內(nèi)插法可以鑒定得相
當(dāng)準(zhǔn)確,因?yàn)樽畲笙饨菑囊幌档慕K了到另 一系間的變化是很平
穩(wěn)的,但是必須注意在某些情況下,不同的種類長(zhǎng)石呈現(xiàn)相等的角
度,在這點(diǎn)關(guān)系上可能造成二個(gè)現(xiàn)象。
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