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本文標(biāo)題："晶面生長形狀和晶面形貌超細(xì)要素特征-檢測顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2016-1-20 17:30:29 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
晶面生長形狀和晶面形貌超細(xì)要素特征-檢測顯微鏡
顯露晶面形貌超細(xì)要素的新方法
研究晶面的生長形狀和晶面形貌超細(xì)要素的特征，對我們更精確
地說明晶體生長過程的概念是很重要的，這種研究使我們可以把晶
體內(nèi)部結(jié)構(gòu)的數(shù)據(jù)與其表面形態(tài)學(xué)的特征進(jìn)行比較。
超細(xì)形貌 的發(fā)現(xiàn)及其個別要素的揭露只有采用特殊的方法——
露滴尖時才有可能，水蒸汽在晶體表面活性區(qū)的凝聚現(xiàn)象是這種方
法的基礎(chǔ)，其中生長梯階凹角的邊緣就是這種活性區(qū)，因此，大多
數(shù)超細(xì)生長層的輪廓，二維的生長晶核、精細(xì)的腐蝕圖形，超細(xì)蜷
線以及顯微形貌的其他要素皆能借顯微露滴異常清晰地顯示出來。
象我們經(jīng)以往所指出的那樣，雖然露滴分布圖幾乎是瞬間消失的
，但是照明還是可能的，不過提出了許多實驗上的困難，露滴圖不
可能進(jìn)行拍照，解決了獲得穩(wěn)定“露滴”圖的問題，這種圖形不隨
時間而改變或者改變得很慢。
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