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應(yīng)用選區(qū)電子衍射技術(shù)研究了相鄰珠光體晶團(tuán)中之鐵素體一鐵素
體的取向關(guān)系,以確定在這些珠光體晶團(tuán)中鐵素體的解理面,是否嚴(yán)
格地平行排列。對(duì)于給定的每一對(duì)珠光體晶團(tuán),通常要攝取三個(gè)衍射
花樣,其中每一晶團(tuán)各給出一種衍射花樣,而圍繞兩個(gè)區(qū)域和晶團(tuán)邊
界給出一種衍射花樣。這樣獲得的衍射花樣通常是很復(fù)雜的,主要是
因?yàn)闈B碳體產(chǎn)生了大量衍射斑點(diǎn)。在這種情況下,掃描電子顯微鏡的
微觀衍射本領(lǐng)能方便地單獨(dú)確定各個(gè)鐵素體板條的取向。這種技術(shù)的
優(yōu)點(diǎn),是可在直徑為3毫微米的極小區(qū)域內(nèi)確定晶體的取向。既然鐵
素體片寬度為100毫微米左右,所以對(duì)于顯微衍射來(lái)說(shuō)這一寬度是足
夠了。在有幾種情況下,也研究了滲碳體的取向關(guān)系,以確定在相鄰
珠光體晶團(tuán)內(nèi),當(dāng)鐵素體片取向相似時(shí),其滲碳體片的晶體取向是否
相同。
在予制裂紋的沖擊試樣中,當(dāng)熱處理?xiàng)l件相同時(shí),所觀察到的非
擴(kuò)展性裂紋要少得多,而且只在極靠近斷裂表面才有。據(jù)信,這是由
于沖擊試樣本來(lái)的脆性就比拉伸試樣為高之故。不過(guò)在沖擊試樣的薄
膜透射電鏡觀察中,也同樣顯示出如拉伸試樣中那樣的滲碳體裂紋,
在沖擊試樣與拉伸試樣中,顯微裂紋的形成都是由剪切開(kāi)裂過(guò)程造成
的。對(duì)于沖擊斷口,由剪切開(kāi)裂過(guò)程而帶來(lái)的一個(gè)問(wèn)題是該過(guò)程應(yīng)該
導(dǎo)致纖維斷口表面,而不是解理斷口形態(tài),以表明兩種開(kāi)裂階段有不
同的源點(diǎn)。
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