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本文標(biāo)題："滲碳體試樣晶粒尺寸直徑計(jì)量金相顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2016-3-18 20:04:27 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
滲碳體試樣晶粒尺寸直徑計(jì)量金相顯微鏡
予制裂紋的夏氏沖擊試驗(yàn)以下列兩種方式促進(jìn)解理斷裂：第一，
高應(yīng)變率使材料屈服強(qiáng)度增加；第二，由于予制裂紋尖端的高度三軸
應(yīng)力狀態(tài)，使得在外加應(yīng)力一定的情況下，提高了局部拉伸應(yīng)力．在
這些因素的共同作用下，導(dǎo)致沖擊試樣比拉伸試樣產(chǎn)生高得多的局部
拉伸應(yīng)力。在這種高應(yīng)力狀態(tài)下，不僅滲碳體可在試樣全面屈服之先
破裂，而且和珠光體片間距一樣小的裂紋核心，就可象解理裂紋那樣
，通過相鄰的鐵素體和滲碳體而失穩(wěn)擴(kuò)展。
有效晶粒尺寸
前面已經(jīng)看到，雖然裂紋在珠光體晶團(tuán)邊界可能改變方向，但是
更常遇到的是它呈單一的解理面而穿越若干個(gè)珠光體晶團(tuán)．因?yàn)榇蠖?/div>
數(shù)研究者認(rèn)為，在珠光體鋼中的解理裂紋沿鐵素體的，所以上述觀察
結(jié)果就意味著在這些相鄰晶團(tuán)中的解理面必須連續(xù)。透射電鏡薄膜觀
察表明，鐵素體的，面可穿過數(shù)個(gè)珠光體晶團(tuán)保持嚴(yán)格平行排列，從
而支持了上述假定，在奧氏體晶粒粗大的材料中，所檢查的幾乎65％
的隨意珠光體晶團(tuán)對(duì)中，相鄰晶團(tuán)鐵素體，面間的取向差約小于5°
。如果把取向差為10°左右的也計(jì)算在內(nèi)(小角度晶界)，同時(shí)假定它
們?nèi)援a(chǎn)生一個(gè)單一的解理面，那么粗晶粒試樣中約有90％的珠光體晶
團(tuán)對(duì)可以產(chǎn)生一個(gè)宏觀上平整的斷裂面，而細(xì)晶粒試樣中則只占65％
如此高的百分率，與解理面的尺寸都比珠光體晶團(tuán)尺寸大許多倍這
個(gè)事實(shí)是相一致的。應(yīng)用包含斷口表面的離子研磨薄膜所進(jìn)行的透射
電鏡分析，以及相襯顯微組織分析提供了更直接的證據(jù)，證實(shí)了在一
個(gè)單一解理面內(nèi)的珠光體晶團(tuán)的確具有相同的鐵素體取向．因?yàn)閿U(kuò)展
中的解理裂紋在錯(cuò)配邊界上必須改變方向，所以具有共同取向的相鄰
珠光體晶團(tuán)所組成的取向單元形成一個(gè)單個(gè)的解理面。正如我們已經(jīng)
討論過的那樣，材料韌性可能直接與顯微組織中這些錯(cuò)配邊界數(shù)目有
關(guān)。如果原奧氏體晶粒組織控制了珠光體中鐵素體的合成取向，那么
就充分說明了奧氏體晶粒尺寸對(duì)材料韌性影響的原因。
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