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本文標(biāo)題："渦流覆層測厚儀覆層厚度測量多功能分析顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2016-5-7 1:56:15 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
渦流覆層測厚儀覆層厚度測量多功能分析顯微鏡
電渦流法簡稱渦流法，它實(shí)質(zhì)上是一種電磁法，其原理是利
用交流電磁場在被測導(dǎo)電物體中感應(yīng)產(chǎn)生的渦流效應(yīng)．渦流法的
工作頻率為幾赫到200 MHz，通常在覆層厚度測量中最高工作頻
率大約為10,一20MHz。渦流法主要用來測量非磁性導(dǎo)電基體上的
非導(dǎo)電覆層厚度、非導(dǎo)電基體上的導(dǎo)電覆層厚度；在覆層和基體
的電導(dǎo)率相差較大的情況下，也可以用來測量非磁性導(dǎo)電基體上
的非磁性導(dǎo)電覆層厚度。渦流法應(yīng)用最普遍的是測量鋁制品表面
上的陽極氧化膜、鋁或銅及其合金制品表面上的油漆層或其他非
導(dǎo)電覆罷厚度，以及非導(dǎo)電基體上銅箔的厚度等。
渦流效應(yīng)與被測制品的磁導(dǎo)率有關(guān)。覆層與基體的磁導(dǎo)率不
同，可以測量鐵磁基體上的非磁性覆層厚度，及不同磁導(dǎo)率的磁
性覆層厚度。但是，對每種基體和覆層的組合需要有各自的分度
曲線或面板，對同一臺渦流覆層測厚儀要用于多種組合下的覆層
厚度測量，將需要相應(yīng)多的分度曲線或較多的面板，從而增加了
測量的復(fù)雜性。在此情況下，通常采用有統(tǒng)一分度的磁感應(yīng)法，
較少采用渦流法。
渦流法測量覆層厚度的范圍隨基體和覆層材料的組合、所選
用的頻率而異，一般導(dǎo)電覆層厚度可測到小至幾分之一微米，非
導(dǎo)電覆層可小至約2微米，而測量較厚的覆層可達(dá)幾十毫米。
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