---
---
---(點擊查看產品報價)
本文標題："導電覆層的厚度-渦流法覆層測厚儀技術應用"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2016-5-8 1:17:48 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
導電覆層的厚度-渦流法覆層測厚儀技術應用
渦流法覆層測厚儀
渦流法覆層測厚儀的最大特點是在儀器制造中要重點地進行
干擾因素的抑制或消除。根據(jù)測量對象、用途以及技術要求不
同，儀器電路變化很大。
通常渦流法覆層測厚儀包括激勵電源、測頭、測量電路、信
號處理電路以及顯示電路等部分。
激勵電源主要是單頻正弦波振蕩器、多頻正弦振蕩器、脈沖
發(fā)生器。
單頻激勵的覆層測厚儀根據(jù)其測頭的激勵方式，通常有以下
幾種電路。
微型計算機渦流法覆層測厚儀的原理圖。這
種測厚儀包括測量電路和微計算機部分。它通過微機程序對該儀
器操作采取人機對話方式進行測量，所測得的數(shù)據(jù)通過微機運算
和處理，可以直接顯示，也可以進行數(shù)據(jù)統(tǒng)計處理，全部結果還
可以打印，作為檢測報告保存起來。
渦流法覆層測厚儀由于測量對象的不同，所要抑制的干擾因
素也不一樣，因而對電路調試和要求則不相同，有各自的特點，
下面分述不同測量對象的儀器及其應用。
渦流法測量導電基體上非導電覆層的厚度可從幾微米到幾十
毫米，甚至更厚。通常利用渦流法測量覆層厚度，主要是測量鋁．
及其合金上的陽極氧化膜、鋁和銅等及其合金上的涂覆層的厚
度。較通用的儀器的測厚范圍在1mm以內。
測量導電基體上非導電覆層厚度實際是測量測頭和被測件基．
體金屬表面問的距離。在這種覆層厚度測量中，如果測頭每次接
觸被測表面其狀態(tài)不能保持一致性，則會導致在距離上的微小變’
化，反映在儀器顯示的靈敏度和覆層厚度的靈敏度是相同的，并
且無法抑制，因而對測頭測量的技術要求很高，通常都采用壓測
頭以保持測量狀態(tài)的一致性。
基體電導率的變化是造成非導電覆層厚度測量誤差的一個重
要原因，為此渦流法覆層測厚儀具有抑制電導率變化影響的特
點。
所有資料用于交流學習之用，如有版權問題請聯(lián)系，禁止復制,轉載注明地址
上海光學儀器一廠-專業(yè)顯微鏡制造商 提供最合理的顯微鏡價格
合作站點：http://www.sgaaa.com/顯微鏡百科