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本文標(biāo)題："成像技術(shù)的新時(shí)代隨著顯微鏡-非接觸模式"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2016-6-27 13:11:05 本站主頁(yè)地址：http://www.y7853.cn
成像技術(shù)的新時(shí)代隨著顯微鏡-非接觸模式
非接觸模式
成像技術(shù)的新時(shí)代隨著顯微鏡學(xué)家開(kāi)發(fā)非接觸模式系統(tǒng)而來(lái)臨。在
針尖表面接觸可能造成樣品細(xì)微改變的情況下，就可以使用非接觸模式
。對(duì)于這種模式，針尖位于樣品表面上方50～150A進(jìn)行掃描。作用于針
尖與樣品間的范德瓦爾斯吸引力被測(cè)量出來(lái)，針尖在表面掃描得到表面
形貌圖像。不過(guò)針尖與樣品的吸引力實(shí)際上要比接觸模式下的作用力小
得多。因此，必須給針尖以微小的振動(dòng)，用交流電檢測(cè)法實(shí)現(xiàn)對(duì)高頻振
動(dòng)微懸臂的振幅、位相和頻率進(jìn)行檢測(cè)，這些物理參數(shù)的變化取決于樣
品與針尖作用力的變化幅值。要得到最理想的分辨率，就有必要測(cè)量樣
品表面上僅一個(gè)納米處范德瓦爾斯力的力梯度。總之，液體污染表面層
要比范德瓦爾斯力梯度面厚得多。因此，如果振動(dòng)探針陷人液體污物表
面層或陷在可測(cè)力的有效范圍之外，非接觸模式的AFM就不可能得到真
實(shí)表面形貌
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