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(點(diǎn)擊查看產(chǎn)品報(bào)價(jià))
掃描探針顯微鏡和探針輪廓儀,然后圍繞著近十五年來(lái)發(fā)展起
來(lái)的、在商業(yè)和工業(yè)上得到應(yīng)用的光學(xué)技術(shù)進(jìn)行了詳細(xì)的介紹。這
部分內(nèi)容包括單色光及白光照明
干涉顯微鏡,白光和多波長(zhǎng)技術(shù)也
常常應(yīng)用于其他測(cè)量方法,比如散斑、全息及條紋和結(jié)構(gòu)光投影過(guò)
程。最后還針對(duì)光學(xué)測(cè)距技術(shù)和偏振干涉儀作了簡(jiǎn)短的評(píng)述。接觸
式輪廓儀
探針輪廓儀和掃描探針顯微鏡,通常都稱為接觸式輪廓儀或者
觸摸式傳感器,因?yàn)樗鼈兌际鞘褂靡粋(gè)探針來(lái)對(duì)測(cè)量對(duì)象的表面進(jìn)
行掃描�,F(xiàn)在,施加在探針尖上的力已經(jīng)非常小了,以至于很難再
將其稱為接觸式儀器。這類儀器的測(cè)量速度很低,橫向分辨率則相
當(dāng)高,不過(guò)一般來(lái)說(shuō)低于光學(xué)顯微鏡。作為最早得到發(fā)展的探針輪
廓儀,其制造成本不高,也便于使用,因此在許多機(jī)械和光學(xué)車間
中作為標(biāo)準(zhǔn)配備。掃描探針顯微鏡的發(fā)展要相對(duì)晚一些,但是由于
其具有亞納米量級(jí)的縱向和橫向分辨率,現(xiàn)在該設(shè)備在實(shí)驗(yàn)室和半
導(dǎo)體及微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)工業(yè)中已經(jīng)被普遍使用。測(cè)量大口徑元件
的剖面可以使用較大探針坐標(biāo)測(cè)量?jī)x,該儀器能夠在掃描模式下工
作。
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