---
---
---(點(diǎn)擊查看產(chǎn)品報(bào)價(jià))
本文標(biāo)題："疏松、偏析、晶粒粗大的波形特征共同特征"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2016-8-3 0:07:04 本站主頁(yè)地址：http://www.y7853.cn
疏松、偏析、晶粒粗大的波形特征共同特征
疏松、偏析、晶粒粗大的波形特征共同特征
疏松、偏析、晶粒粗大的波形具有以下共同特征：
(1)正常探傷靈敏度難發(fā)現(xiàn)缺陷，即使有反射波出現(xiàn)，也不是
某一個(gè)反射體單獨(dú)作用的結(jié)果，而是同一波陣面上的反射體共同作
用的結(jié)果。
(2)比正常探傷靈敏度提高20～30dB后才能出現(xiàn)典型的缺陷波
形。
(3)三者的波形特征都系草狀回波，即波形虛幻，頂部不清晰
，波與波之間難于分辨，移動(dòng)探頭時(shí)，波形變化迅速。不同特征
疏松與偏析
嚴(yán)重的疏松(特別是鑄件中的疏松)、偏析對(duì)底波有一定影響，會(huì)
使底波明顯減少。提高探傷靈敏度，底波反射次數(shù)會(huì)明顯增加。這
兩類(lèi)缺陷中，暗點(diǎn)對(duì)底波影響較小，孔隙則影響較大。實(shí)踐證明，
鍛件中三級(jí)以下疏松偏析對(duì)底波反射影響不大。伴有氣泡缺陷的點(diǎn)
狀偏析對(duì)鍛件性能影響較大，它的傷波相對(duì)較高，對(duì)底波影響也較
大。
晶粒粗大
粗晶對(duì)底波影響嚴(yán)重，一般情況底波只有1～2次，但提高靈敏
度時(shí)，它的底波反射次數(shù)并不增加，
所有資料用于交流學(xué)習(xí)之用，如有版權(quán)問(wèn)題請(qǐng)聯(lián)系，禁止復(fù)制,轉(zhuǎn)載注明地址
上海光學(xué)儀器一廠-專業(yè)顯微鏡制造商 提供最合理的顯微鏡價(jià)格
合作站點(diǎn)：http://www.sgaaa.com/顯微鏡百科
上一篇：氫氧化鐵水泥基材料樣品分析顯微鏡