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本文標(biāo)題："氧化膜受到的磨損要深于金屬表面的磨痕測(cè)量顯微鏡"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2016-9-27 17:23:57 本站主頁(yè)地址：http://www.y7853.cn
氧化膜受到的磨損要深于金屬表面的磨痕測(cè)量顯微鏡
拋光
這一階段重點(diǎn)在于注意拋光是針對(duì)氧化物而不是金屬，按金相制備
中普通的研磨拋光程序操作是不能展現(xiàn)出氧化物的所有形貌特性的。一
般金屬拋光是用砂紙逐級(jí)研磨，耗費(fèi)在每一級(jí)砂紙上的時(shí)間取決于將上
一級(jí)砂紙留下的磨痕磨去的時(shí)間，如果僅僅按這種規(guī)程操作的話，得到
的氧化膜肯定是多孔的。這里重要的是要認(rèn)識(shí)到由于氧化膜脆而易碎，
氧化膜受到的磨損要深于金屬表面的磨痕，因此在進(jìn)入下一級(jí)砂紙之前
，需要用更長(zhǎng)的時(shí)間對(duì)樣品進(jìn)行研磨直至完全去除上一級(jí)砂紙?jiān)斐傻哪?/div>
損的深度。換句話說(shuō)，花費(fèi)在每級(jí)砂紙上的時(shí)間要長(zhǎng)于對(duì)金屬拋光時(shí)所
用的時(shí)間，如果按照這個(gè)規(guī)程進(jìn)行操作，得到的氧化膜會(huì)是完好致密的
，并且不會(huì)出現(xiàn)因拋光不當(dāng)造成的孔洞。拋光后的樣品可用傳統(tǒng)的金相
顯微鏡或掃描電子顯微鏡(SEM)進(jìn)行觀察。
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