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顆粒表面和比表面積
礦物材料的顆粒表面是極不規(guī)則的,大部分礦物屬晶體結構,
在晶體的表面,通常存在臺階、裂隙、溝槽、位錯、缺陷等。通常
將組成晶體的全部質點都定位在晶體結構中的正確位置上的晶體,
稱為理想晶體。而事實上這種晶體是不存在的,自然界中的實際礦
物晶體都不可避免地存在缺陷,這種缺陷的存在,在理論上和實際
應用中都有重要意義,如晶體缺陷決定著礦物顆粒的化學活性,并
對其光學性質、電學性質、聲學性質、力學性質和熱學性質等都有
影響。
晶體缺陷分為四種類型:點缺陷、線缺陷、面缺陷和體缺陷。
點缺陷是指在晶體點陣位置上存在空位或被外來雜質原子取代,如
類質同象替代就屬于這種情況;線缺陷是指在晶體中沿某一條線附
近的原子排列偏離了理想晶體的點陣結構,如位錯就是一種線缺陷
;面缺陷存在于多晶體中,所謂多晶體是指由許多單晶顆粒組成的
晶體,多晶體中不同取向的晶粒之間的界面稱為晶粒界面,若晶粒
界面附近的原子排列出現(xiàn)紊亂,就構成了面缺陷;
單位體積或單位質量的礦物所具有的表面積稱為該礦物顆粒的比表
面積。礦物顆粒的粒度越細,顆粒的比表面積越大,如粒度為1cm
的顆粒破碎到粒度1μm時,該礦物顆粒的比表面積增大約1萬倍。
顆粒的表面積可分為外表面積和內(nèi)表面積。外表面積是指顆粒的外
部輪廓所包絡的表面積,它由顆粒的大小和外部形狀所決定;內(nèi)表
面積是指顆粒內(nèi)部的孔隙、裂紋等構成的表面積。
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