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本文標(biāo)題："電子斷口斷裂機制金相分析圖像顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2016-10-14 1:42:44 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
電子斷口斷裂機制金相分析圖像顯微鏡
對于裂縫在循環(huán)條件下的長大，并未引入新的斷裂機制。在形成延
性的輝紋情況中，斷裂機制往往或為范性斷裂機制，或為小規(guī)模的滑開
(破斷)機制。在形成脆性的輝紋時，存在著一個解理成分以及某些范性
形變，后者對于在解理裂縫擴展了一段短距離后使其停止是需要的。但
就裂縫的萌生來說，循環(huán)載荷導(dǎo)致了一些新的過程，而由飽和硬化現(xiàn)象
所表征的循環(huán)狀態(tài)的特性肯定是獨特的。
疲勞斷裂是目前出現(xiàn)于結(jié)構(gòu)中的最重要的損壞類型。其發(fā)生的力學(xué)
條件已被相當(dāng)完善地確立。除了高循環(huán)疲勞之外，等溫低循環(huán)疲勞和熱
疲勞兩者的重要性現(xiàn)在已受到了普遍的承認(rèn)。關(guān)于疲勞裂縫萌生的金相
學(xué)已有詳細(xì)的報導(dǎo)，并被提出了若干理論以從位錯觀點和連續(xù)介質(zhì)力學(xué)
觀點兩方面來解釋疲勞裂縫的形成。還沒有一種理論是完全成功的。為
使疲勞(指正常意義的疲勞)發(fā)生，兩個條件看來是必要的：自由表面的
存在，以及位錯的交叉滑移。在疲勞試驗中所呈現(xiàn)的延性，與材料固有
的延性和外加的循環(huán)振幅兩者都有關(guān)系。疲勞的斷裂方式往往是穿晶的
，但在某些環(huán)境中也會出現(xiàn)晶間的方式。電子斷口學(xué)，通過其對輝紋間
隔的測量，在分析疲勞損壞方面具有重大的價值，但應(yīng)用時必須加以適
當(dāng)?shù)膶徤鳌Ｆ诹芽p的擴展至少分成兩個明晰的階段進(jìn)行：沿切變面的
裂開(階段工)，以及在與應(yīng)力方向成90。的宏觀表面上的擴展(階段II)
。屬于后一階段的很多特性已被相當(dāng)完善地歸納起來，但產(chǎn)生它們的一
些過程則仍舊有些疑問。
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