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本文標(biāo)題："電子顯微鏡光源能量分散引入包絡(luò)函數(shù)與分辨率"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2016-11-4 22:54:55 本站主頁(yè)地址：http://www.y7853.cn
電子顯微鏡光源能量分散引入包絡(luò)函數(shù)與分辨率
圖像分辨率的改善
應(yīng)該指出，由光源能量分散引入的包絡(luò)函數(shù)限制了信息分辨率，使
用FEG(場(chǎng)發(fā)射槍)光源，能量分散的減少極大地?cái)U(kuò)展了有較高空間頻率
的襯度傳遞函數(shù)，這就導(dǎo)致了高的信息分辨率。不幸的是，在較高空間
頻率下，即使在用場(chǎng)發(fā)射槍時(shí)，襯度傳遞函數(shù)的振蕩減少了HRTEM所提
供的結(jié)構(gòu)信息。是在無(wú)透鏡畸變情況下試樣的真實(shí)圖像，且它可以與通
過(guò)物鏡光闌的電子波函數(shù)的計(jì)算結(jié)果進(jìn)行直接比較。
磁疇界兩側(cè)的干涉條紋的變化反映了局部電荷偶極子的微擾對(duì)透射
電子位相的影響。條紋彎曲處的起始位置與終止位置之間的距離是由磁
疇壁寬度決定的，越過(guò)這一距離，極化矢量會(huì)改變方向，這一距離通常
為2—5nm。由于相鄰條紋間的位相差為2，(，條紋彎曲的橫向偏移直接
與電子受到的相位位移成正比，如同電子在不同的位置穿過(guò)試樣。
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