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掃描隧道顯微鏡
掃描隧道顯微鏡(sc秈ling tLmneling rnicmsc叩e,S,IM)于
1981年由IBM蘇黎世實(shí)驗(yàn)室的Bi衄ig等4人發(fā)明,曾獲1986年度的諾
貝爾物理學(xué)獎(jiǎng)。S7珊根據(jù)量子隧道效應(yīng)而設(shè)計(jì),可在原子水平上顯
示物體的表面結(jié)構(gòu)。其分辨力在常溫常壓下可達(dá)納米以下,高于透
射式電鏡,而且可直接獲得物體表面的三維圖像,不需外源電子輻
照,使被觀察樣品避免損傷STM比掃描電鏡(sEM)掃描速度快,獲得
數(shù)據(jù)的時(shí)間短,成像快。應(yīng)用SrIM觀察DNA的結(jié)構(gòu)、細(xì)胞膜表面以
及病毒顆粒等均可獲得較好效果。
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