---
---
---(點(diǎn)擊查看產(chǎn)品報(bào)價(jià))
本文標(biāo)題："二維光電探測(cè)技術(shù)-高精度星體測(cè)量常識(shí)"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2017-4-27 21:59:04 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
二維光電探測(cè)技術(shù)-高精度星體測(cè)量常識(shí)
天體在天球上的幾何坐標(biāo)與其成像在芯片上的量度坐標(biāo)之
間的轉(zhuǎn)換，仍采用照相天體測(cè)量的那套方法。照相天體測(cè)量中，多
年來形成的一套成熟的方法是：在幾何坐標(biāo)與量度坐標(biāo)之間借助于
理想坐標(biāo)來過渡，即先將參考星的幾何坐標(biāo)換算成理想坐標(biāo)，與這
些星的量度坐標(biāo)組合求解出底片常數(shù)，用于將待測(cè)星的量度坐標(biāo)換
算成理想坐標(biāo)，最后得到待測(cè)星的幾何坐標(biāo)。在這過程中，把量度
坐標(biāo)系與理想坐標(biāo)系之間坐標(biāo)原點(diǎn)和坐標(biāo)軸指向的差異、各種畸變
和較差改正的影響等，都?xì)w入底片常數(shù)中求解出來，一般情況下，
可用的參考星數(shù)量限制了底片常數(shù)的數(shù)目，即限制了底片模型的完
整性
天文底片不僅用于記錄和測(cè)量天象，在天體物理中也作為一種重要
的二維輻射探測(cè)器進(jìn)行測(cè)光和光譜工作。在這些測(cè)量中．必須精確
測(cè)定底片的特性曲線，以便通過測(cè)定底片密度來確定照度，進(jìn)而求
得天體的光度變化。
雖然照相方法在某些方面已不能滿足目前高精度天體測(cè)量的要
求，但它依然保持著信息量大和成本低等等優(yōu)勢(shì)。不過由于近年新
興的二維光電探測(cè)技術(shù)發(fā)展很快，照相底片的使用范圍正逐漸減小
。
所有資料用于交流學(xué)習(xí)之用，如有版權(quán)問題請(qǐng)聯(lián)系，禁止復(fù)制,轉(zhuǎn)載注明地址
上海光學(xué)儀器一廠-專業(yè)顯微鏡制造商 提供最合理的顯微鏡價(jià)格
合作站點(diǎn)：http://www.sgaaa.com/顯微鏡百科