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本文標題："圓柱形試塊、梯形試塊及各種校驗試塊分析顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2017-4-28 23:18:13 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
圓柱形試塊、梯形試塊及各種校驗試塊分析顯微鏡
試塊的分類
超聲波探傷用試塊種類很多，從大的方面分可以分為人工試塊與天
然試塊兩大類。人工試塊又可分為許多類，按用途分，有校驗試塊，對
比試塊、模擬試塊等。按人工反射體分有平底孔試塊，橫通孔試塊、柱
孔試塊和槽形試塊等。按試塊的形狀分有半圓試塊、薄板試塊、三角試
塊、圓柱形試塊、梯形試塊及各種校驗性的試塊等等。
天然試塊可分為內(nèi)裂紋試塊、白點試塊、縮孔殘余試塊、表面裂紋
試塊、晶粒粗大試塊等。
常用試塊的設(shè)計及制作要求
試塊
試塊，又稱荷蘭試塊，它是由荷蘭提出，國際焊接學(xué)會推薦的綜合
性的校驗試塊。材質(zhì)采用低碳鋼，為了獲得均勻的細晶粒組織，坯件(
約320mm x 120mm×30mm)必須按下列方法作調(diào)質(zhì)處理：坯件加熱到920
℃保溫半小時后置于水中淬火，接著650℃回火，保溫三小時，并置于
空氣中冷卻。在最終加工前，須經(jīng)超聲探傷檢驗，不能有影響試塊使用
的缺陷。加工時，每個表面至少刨去2mm，回波面要求磨削加工，其余
各面都采用縱向刨削。刻度應(yīng)采用蝕刻法或電刻法(數(shù)字字高4mm)，以
免產(chǎn)生回波干擾。qb50mm的鑲?cè)藟K圓柱體高23mm，由有機玻璃制成，給
它的頂面涂上一層銀層，使其涂層厚度對測量不致產(chǎn)生重大影響。
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