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本文標(biāo)題："集成電路板分析高質(zhì)量測試工業(yè)顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2017-6-24 2:08:50 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
集成電路板分析高質(zhì)量測試工業(yè)顯微鏡
在超速測試中，在時鐘速度高于系統(tǒng)時鐘的條件下執(zhí)行現(xiàn)有的或改
進(jìn)后的過渡故障模式。在更高時鐘下的測試模式的應(yīng)用能夠降低所
有路徑上的有效系統(tǒng)余量，因此能夠增加檢測到所有路徑上的小延
遲缺陷的概率。由于這一點(diǎn)，基于超速方法的測試方案不僅能夠檢
測關(guān)鍵的小延遲缺陷，還能夠篩選出潛在的可靠性缺陷。但是需要
特別注意的就是，當(dāng)選取測試時鐘速度時許多長路徑可能成為多周
期路徑，因此需要將它們屏蔽掉。同樣，更高的測試頻率會使更多
的短路徑看成可能的延遲缺陷，因此對那些不需要嚴(yán)格質(zhì)量水平的
產(chǎn)品會過殺其良率。然而，龐大的模式數(shù)量的問題仍然是超速測試
方法的一個主要的缺點(diǎn)。基于超速的測試方法已經(jīng)得到擴(kuò)展并包含
工藝偏差的影響以及串?dāng)_效應(yīng)。這一擴(kuò)展對理解小延遲缺陷是十分
關(guān)鍵的，因為這些不僅僅是在生產(chǎn)過程中引入的物理缺陷所引起的
，而且也會因電氣缺陷在現(xiàn)實(shí)生活中發(fā)生，例如串?dāng)_。替代或混合
的測試方法，能夠解決龐大的模式數(shù)量以及很長的運(yùn)行時間的問題
而不會損耗測試質(zhì)量。大部分替代的測試方法基于高效的測試模式
選取或高效的故障點(diǎn)選取。基于模式選取的方法中，不用生成時序
敏感模式，從現(xiàn)有的過渡故障模式庫中選取高效的測試模式。測試
模式對小延遲缺陷的有效性是基于電路中主／掃描輸出端所觀測到
的輸出偏差而測量得到的。類似的，其他的測量標(biāo)準(zhǔn)可以用于找出
具有更高的小延遲缺陷覆蓋率的測試模式。對于大型的工業(yè)電路來
說，這些方法在測試質(zhì)量和測試成本方面可以提供更高的靈活性，
但是這些方法的缺點(diǎn)之一就是測試結(jié)果的總體質(zhì)量無法高于選取這
些測試模式源頭的測試模式庫的質(zhì)量。、因此，擁有一個非常高質(zhì)
量基線的測試模式集是關(guān)于這些方法的先決條線。高效的基于故障
選取的替代方案不會遭受這一弊端。有效的基于故障選取的方法的
主要原理就是并不是所有的故障點(diǎn)都需要特別的測試模式來鎖定小
延遲缺陷，因為傳統(tǒng)的過渡故障模式已經(jīng)檢測了很多可能的小延遲
缺陷�；陔娐吠�?fù)涞墓收线x取方法。這兩種方法能夠在合理的計
算時間內(nèi)產(chǎn)生高質(zhì)量的測試集，這兩種方法在產(chǎn)業(yè)上的應(yīng)用也驗證
了這些方法針對產(chǎn)品應(yīng)用的價值。
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