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本文標(biāo)題："斷口金相學(xué)技術(shù)-分析軟件光學(xué)顯微透鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2018-1-5 23:38:24 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
斷口金相學(xué)技術(shù)-分析軟件光學(xué)顯微透鏡
斷口金相學(xué)的歷史
當(dāng)Carl A Zapffe成功地用一個(gè)光學(xué)顯微透鏡盡可能接近一個(gè)
高低不平的斷裂表面，觀察單個(gè)晶粒內(nèi)部的斷裂細(xì)節(jié)之后，Carl A
Zapffe在1944年首次提出了“斷口金相學(xué)”這一術(shù)語。美國(guó)金屬
學(xué)會(huì)的《斷口金相學(xué)手冊(cè)》一書指出：“斷口金相學(xué)的目的就是分
析斷裂特征，并試圖將斷裂表面的形貌與斷裂原因和(或)基本的斷
裂機(jī)制聯(lián)系起來”¨J。
對(duì)工程師來說，斷口金相學(xué)是一種重要工具，對(duì)材料顯微組織
和成分、材料加工以及服役環(huán)境等因素進(jìn)行綜合了解，工程師就可
獲得失效原因，并理解失效機(jī)制。這樣做可更好地理解材料的局限
性，并讓工程師針對(duì)未來可能的失效采取預(yù)防性措施。
從青銅器時(shí)代開始，人們就已經(jīng)對(duì)斷裂表面進(jìn)行分析，得出冶
煉和熔化過程中的各種變量與材料特征和性能之間的相互關(guān)系。在
1540年，Vannoccio Biringuccio在刊名為《De La Pirotechnia))
的雜志上首次以書面形式描述用于評(píng)估金屬品質(zhì)的斷口表面，他的
這種方法被用于確保黑色和有色金屬的品質(zhì)。在1627年，首次記錄
了確定金屬晶粒尺寸的案例。
1722年，de R6aumur首次通過仔細(xì)復(fù)制手工雕刻版畫的方式，
復(fù)制了斷口形貌。他把斷裂分成不同的類型。按照斷口中“鏡面狀
晶面”“纖維狀金屬”以及“木紋狀形貌”的不同數(shù)量和尺寸，把
斷裂類型分成類型I～類型Ⅵ。
19世紀(jì)，由于金相學(xué)的出現(xiàn)，使用斷口形貌分析顯著減少。引
用冶金學(xué)家Floris Osmond的原話，即從研究斷裂表面中進(jìn)行學(xué)習(xí)
，“沒有什么是正確的或有用的”。盡管受到這些挫折，但斷口金
相學(xué)也取得了幾個(gè)重要的進(jìn)展。1879年，D．K．Tschernoff發(fā)表的
論文首次精確地說明了晶粒的真實(shí)形狀并且首次拍攝到斷口表面的
形貌。1889年，B．Kirsh首次描述了杯錐狀拉伸斷口，并假定在拉
伸試樣中的斷裂擴(kuò)展理論，該理論至今仍在使用。
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