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本文標(biāo)題："加工表面球面拋光質(zhì)量檢測(cè)光學(xué)顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2018-5-26 1:55:08 本站主頁(yè)地址：http://www.y7853.cn
加工表面球面拋光質(zhì)量檢測(cè)顯微鏡
加工表面所允許的面形偏差可以定義為公差帶，
接近公差帶邊界的表面與球面接近，公差帶的直徑
表示為公差范圍，公差帶中心則恰好落在理論設(shè)計(jì)表面上。
如前面敘述，所允許傾角誤差值必須在圖中標(biāo)注，
用來限制光學(xué)元件在公差帶邊界內(nèi)的震蕩。
表面紋理的質(zhì)量
小接觸面積磨頭在加工過程中有確定的工作路徑，
只能在很小的空間內(nèi)隨機(jī)運(yùn)動(dòng)。從而導(dǎo)致表面紋理質(zhì)量的下降。
為了獲得和球面一樣的拋光質(zhì)量，需要更多的技術(shù)改進(jìn)，
例如，拋光時(shí)采用更小尺寸的拋光頭，從10微米尺寸降到3微米尺寸，
采用更小的拋光壓力。從而延長(zhǎng)拋光時(shí)間
。因此，相對(duì)于拋光相同質(zhì)量的球面，拋光非球面需要更長(zhǎng)的時(shí)間。
最近，在拋光技術(shù)方面有了新進(jìn)展，例如磁流變拋光技術(shù)
(合適的拋光液)可以用來拋光各式各樣的
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