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本文標(biāo)題："地質(zhì)剖面的特征樣品分析圖像顯微鏡廠家"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2019-5-7 2:51:34 本站主頁地址：http://www.y7853.cn
地質(zhì)剖面的特征樣品分析圖像顯微鏡廠家
一般是按井的地球物理測(cè)井曲線(測(cè)井曲線)劃分地層剖面。目前推薦
了大量的，不同的自動(dòng)劃分曲線的算法。
照例，用各種方法研究鉆井揭開層并按綜合測(cè)井曲線進(jìn)行分層。在此
種情況下，計(jì)算機(jī)分層按兩步完成。首先，按各個(gè)測(cè)井曲線(異常的分層)
進(jìn)行分層，然后將分層結(jié)果綜合處理為測(cè)井剖面的最終分層。下面詳細(xì)研
究以上兩個(gè)步驟。
用特征點(diǎn)法按測(cè)井曲線劃分地層(和其它地質(zhì)目標(biāo)層)。該方法就其基
礎(chǔ)來講非常簡(jiǎn)單：連續(xù)分析曲線點(diǎn)并分出滿足一定條件的點(diǎn)，如極值點(diǎn)，
轉(zhuǎn)折點(diǎn)等等。以地層界面、含油和含氣藏邊界等等作為劃分的特征點(diǎn)。困
難在于特征點(diǎn)的選擇既取決于地球物理研究方法，也決定于地質(zhì)剖面的特
征。通常用兩種方法進(jìn)行異常分層。其中一種是初步偵察性的粗分層，在
其基礎(chǔ)上再用第二種方法詳細(xì)地確定地層界限。
測(cè)井曲線最簡(jiǎn)單的分層方法是劃分水平點(diǎn)，水平點(diǎn)上測(cè)井曲線與水平
線相交。劃分較大偏向曲線(井徑，微電極曲線等)時(shí)水平點(diǎn)最方便。在粗
分層時(shí)用水平點(diǎn)也很方便。借助于它較易“切。出異常段之后再進(jìn)行細(xì)分
層。正如在劃分自然電位曲線寸，常�！な紫扔盟街本�與自然電位異常
相切，然后進(jìn)一步明確與異常有!關(guān)層的界限，按最接近劃分的水平點(diǎn)的轉(zhuǎn)
折點(diǎn)分界。
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